В России создали лазер LFI-26, проверяющий микросхемы на безопасность

LFI-26, или Laser Fault Injection, с помощью лазерного излучения вызывает сбои в микросхемах с точностью до микросекунд. Исследователи могут анализировать, как устройство реагирует на ошибки, и находить слабые места. Это помогает оценивать безопасность чипов, используемых в банковских картах, криптокошельках, смартфонах, автомобилях и даже космических аппаратах. После ухода западных поставщиков собственный комплекс стал необходим для сохранения компетенций в аппаратной безопасности.

По словам руководителя R&D-центра Positive Labs Алексея Усанова, разработка позволяет не только тестировать зарубежные чипы, но и подтверждать надёжность отечественной элементной базы. Полученные результаты применяются для создания более эффективных механизмов защиты от атак.